Escuela

IV Escuela de la Asociación Argentina de Cristalografía
Fundamentos y Aplicaciones de la Difracción de Rayos X de Polvo
5 al 9 de Noviembre de 2012
Edificio Gollán de la Facultad de Ingeniería Química – Aula Leloir

 

Profesores
María Susana Conconi (Universidad Nacional de la La Plata, Argentina)
José Miguel Delgado (Universidad de Los Andes, Venezuela)
Fabio Furlan Ferreira (Universidade Federal do ABC, Brasil)
Diego Lamas (Universidad Nacional del Comahue, Argentina)
Daniel Vega (Centro Atómico Constituyentes-CNEA, Argentina)

 

Coordinación local
Silvia Alconchel (Facultad de Ingeniería Química-UNL)
Beatriz Pierini (Facultad de Ingeniería Química-UNL)
Alberto Rizzi (Facultad de Bioquímica y Ciencias Biológicas-UNL)

 

Objetivos

  • Proporcionar a los alumnos la base teórica necesaria y los conocimientos experimentales más importantes de la difracción de rayos X de polvo, incluyendo aspectos fundamentales y avanzados.
  • Presentar a los alumnos distintas aplicaciones de la técnica y las herramientas para análisis de datos necesarias para abordar cada caso.

 

 

Modalidad
La modalidad de la Escuela consistirá en el dictado de clases teóricas y clases prácticas con una carga horaria total de 40 h. Las clases prácticas incluirán la colección de datos experimentales y el uso de diferentes programas de análisis con acceso libre. La evaluación consistirá en un examen escrito previsto para el día 10 de Noviembre en horario matutino.

 

Destinatarios
La Escuela está especialmente dirigida a estudiantes de posgrado (áreas de química, física, biología, geología, ingeniería y afines) que necesiten utilizar la difracción de rayos X de polvo como herramienta de trabajo. Podrán también participar estudiantes de grado avanzado, profesionales y docentes-investigadores, hasta cubrir un cupo de 45 alumnos.

La Facultad de Ingeniería Química (FIQ) y la Facultad de Bioquímica y Ciencias Biológicas (FBCB) de la UNL ya han reconocido la Escuela como curso de posgrado. Ambas unidades académicas emitirán los certificados de aprobación a los alumnos que así lo requieran, mientras que los de asistencia serán otorgados por la Organización del evento.

 

Tópicos principales

  • Fundamentos teóricos de la difracción de polvo
  • Aspectos experimentales
  • Simetría cristalográfica y asignación de índices
  • Bases de datos y análisis cualitativo
  • Refinamiento Rietveld
  • Análisis cuantitativo, tamaño de cristalito y tensiones
  • Difracción de polvo con luz sincrotrón
  • Introducción a la determinación estructural ab initio a partir de datos de difracción de polvo

 

Inscriptos, asistentes y becas

- Descargar listado de inscriptos
- Descargar listado de asistentes

 

Programa y resoluciones FIQ-FBCB

- Descargar programa analítico
- Descargar resolución CD FIQ
- Descargar resolución CD FBCB

 

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