Programa
Programa sintético
ESCUELA ARGENTINA DE CATÁLISIS EAC 2019
“Aplicaciones de la Microscopía Electrónica de Transmisión y Barrido”
16 y 17 de setiembre 2019 – Santa Fe, Argentina
Módulo I: Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
- Introducción a la microscopía electrónica de barrido (SEM) y al microanálisis por sonda de electrones (EPMA): Interacción de electrones con la materia. Señales que surgen y que dan origen a distintas técnicas.
- SEM: Instrumentación - Diseño del equipo y principio de funcionamiento. Variantes instrumentales existentes. Componentes: fuente de electrones, sistema de lentes, detectores. Parámetros operativos (profundidad de análisis, efecto del número atómico, resolución, magnificación, ángulo). Efectos del bombardeo de electrones sobre las muestras. Modos de observación (Secundarios – efecto de la topografía, retrodispersados – efecto de la naturaleza química, cátodo luminiscencia, rayos X para análisis). Nociones sobre tratamiento de imágenes (distribución de tamaños de partículas, curvas de nivel, rugosidad). Preparación de muestras (procedimientos básicos y ejemplos en particular).
- EPMA: Descripción del fenómeno de emisión de rayos X por bombardeo de electrones. Análisis localizado de elementos mediante espectroscopias dispersivas en energía (EDS) y en longitud de onda (WDS). Comparación entre ambas variantes (sensibilidad analítica, límite de detección, interferencias). Análisis elemental cualitativo, semicuantitativo y cuantitativo (métodos de corrección, uso de patrones). Ejemplos analíticos en diferentes materiales.
Módulo II: Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)
- Microscopio Electrónico de Transmisión (TEM), historia, ejemplos. TEM, HRTEM, STEM, CTEM/STEM, Cryogenic Electron Microscopy (Cryo-EM). Comparación Microscopio Electrónico de Barrido y Microscopio Electrónico de Transmisión. Electrones, rayos-X y neutrones, propiedades. Conceptos de difracción Dispersión elástica de electrones, comparación con R-X. El microscopio TEM convencional, modo difracción, campo claro y campo oscuro. Contrastes clásicos, precipitados, dislocaciones, fallas de apilamiento, contraste de espesor, franjas de doblado.
- Microscopia Electrónica de Alta resolución (HRTEM) contraste de fase. Interpretación.
-Microscopia Electrónica de Transmisión en Barrido (STEM). El microscopio STEM, esquema. Resolución, coherencia. Detectores: campo claro, campo oscuro, HAADF, interpretación. Límites de resolución.
- Cañones de electrones: emisor termoiónico y de emisor de campo (FEG). Lentes magnéticas, aberraciones, resolución punto a punto, límite de información.
Fecha/hora |
Actividad |
Lugar |
Lunes 16 |
Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) Dra. Silvia Montoro, Dr. José Luis Fernández |
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8:00-8:30 h |
Acreditación-Entrega de material |
Aula de capacitación Ed. documentación Predio CCT-CONICET Ruta 168 Km 0, Paraje El Pozo, Santa Fe |
8:30-10:30 h |
SEM clase Teórica |
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10:30-11:00 h |
Café |
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11:00-12:30 h |
SEM clase Teórica |
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12:30-14:00 h |
Almuerzo- Traslado a FIQ |
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14:00-18:30 h |
SEM clase Teórico-Práctico |
Aula Babini, 2do piso Facultad de Ingeniería Química Santiago del Estero 2829 |
Martes 17 |
Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM) Dra. Alejandra Floridia, Dr. Alberto Caneiro |
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8:30-10:30 h |
TEM clase Teórica |
Aula de capacitación Ed. documentación Predio CCT-CONICET Ruta 168 Km 0, Paraje El Pozo, Santa Fe |
10:30-11:00 h |
Café |
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11:00-12:30 h |
TEM clase Teórica |
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12:30-14:00 h |
Almuerzo |
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14:00-16:00 h |
TEM clase Teórico-Práctico |
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16:00-16:30 h |
Café |
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16:30-18:30 h |
TEM clase Teórico-Práctico |